Zobrazeno 1 - 10
of 169
pro vyhledávání: '"Rossetto I."'
Autor:
De Santi, C., Buffolo, M., Rossetto, I., Bordignon, T., Brusaterra, E., Caria, A., Chiocchetta, F., Favero, D., Fregolent, M., Masin, F., Modolo, N., Nardo, A., Piva, F., Rampazzo, F., Sharma, C., Trivellin, N., Zhan, G., Meneghini, M., Zanoni, E., Meneghesso, G.
Publikováno v:
In e-Prime - Advances in Electrical Engineering, Electronics and Energy 2021 1
Autor:
Merlo, L., Rossetto, I., Cerati, L., Ghidini, G., Milani, A., Toia, F., Piagge, R., Di Biccari, L., Gevinti, E., Croce, G., Andreini, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Autor:
Rossetto, I., Meneghini, M., Canato, E., Barbato, M., Stoffels, S., Posthuma, N., Decoutere, S., Tallarico, A.N., Meneghesso, G., Zanoni, E.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:298-303
Publikováno v:
In Contraception November 2023 127
Autor:
Meneghini, M., Hilt, O., Fleury, C., Silvestri, R., Capriotti, M., Strasser, G., Pogany, D., Bahat-Treidel, E., Brunner, F., Knauer, A., Würfl, J., Rossetto, I., Zanoni, E., Meneghesso, G., Dalcanale, S.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability March 2016 58:177-184
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Rossetto, I., Rampazzo, F., Gerardin, S., Meneghini, M., Bagatin, M., Zanandrea, A., Dua, C., di Forte-Poisson, M.-A., Aubry, R., Oualli, M., Delage, S.L., Paccagnella, A., Meneghesso, G., Zanoni, E.
Publikováno v:
In Solid State Electronics November 2015 113:15-21
Autor:
Rossetto, I., Meneghini, M., Bisi, D., Barbato, A., Van Hove, M., Marcon, D., Wu, T.-L., Decoutere, S., Meneghesso, G., Zanoni, E.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1692-1696
Autor:
Bisi, D., Stocco, A., Rossetto, I., Meneghini, M., Rampazzo, F., Chini, A., Soci, F., Pantellini, A., Lanzieri, C., Gamarra, P., Lacam, C., Tordjman, M., di Forte-Poisson, M.-A., De Salvador, D., Bazzan, M., Meneghesso, G., Zanoni, E.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1662-1666
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.