Zobrazeno 1 - 10 of 15 pro vyhledávání: '"Rosenkranz, Rüdiger"'
2
Quantitative analysis of backscattered electron (BSE) contrast using low voltage scanning electron microscopy (LVSEM) and its application to Al0.22Ga0.78N/GaN layers
Autor: Garitagoitia, Maria Aranzazu, Rosenkranz, Rüdiger, Löffler, M., Clausner, André, Standke, Yvonne, Zschech, Ehrenfried
A novel method to quantify and predict the material contrast using Backscattered Electron (BSE) imaging in Scanning Electron Microscopy (SEM) is presented while using low primary electron beam energies (Ep). In this study, the parameters for BSE imag
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::0d863dbe38c7ae9cf26c357c450321d2
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/254183
Zobrazit plný text záznamu
3
Physikalische Werkstoffdiagnostik
Autor: Bauch, Jürgen, Rosenkranz, Rüdiger
Dieses Praktikerbuch bietet eine kompakte Übersicht zu 50 wichtigen werkstoffanalytischen Verfahren, die jeweils auf einer Doppelseite kurz und übersichtlich dargestellt werden. Diese Verfahren dienen der Ermittlung von Eigenschaften und Defekten i
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::06dcb3349419dab74baa30aee7104444
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/298617
Zobrazit plný text záznamu
4
Optimization of the SEM working conditions: EsB detector at low voltage
Autor: Cid, Aranzazu Garitagoitia, Rosenkranz, Rüdiger, Zschech, Ehrenfried
Material contrast in scanning electron microscopy (SEM) is studied for several kinds of samples with an energy selective backscattered (EsB) electron detector using low voltage. The working conditions are optimized for every specimen and the contrast
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::3b13e241a9a729143906ab12b9ad4bd3
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/242984
Zobrazit plný text záznamu
5
Lateral damage in graphene carved by high energy focused gallium ion beams
Autor: Liao, Zhongquan, Zhang, Tao, Gall, Martin, Dianat, Arezoo, Rosenkranz, Rüdiger, Jordan, Rainer, Cuniberti, Gianaurelio, Zschech, Ehrenfried
Raman mapping is performed to study the lateral damage in supported monolayer graphene carved by 30keV focused Ga+ beams. The evolution of the lateral damage is tracked based on the profiles of the intensity ratio between the D (1341cm-1) and G (1582
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::8ab5007a6e89510c8367e0f8e7174eef
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/240312
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Optimization of the SEM Working Conditions: EsB Detector at Low Voltage.
Autor: Garitagoitia Cid, Aránzazu, Rosenkranz, Rüdiger, Zschech, Ehrenfried
Publikováno v: Advanced Engineering Materials; Feb2016, Vol. 18 Issue 2, p185-193, 9p
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Lateral damage in graphene carved by high energy focused gallium ion beams.
Autor: Zhongquan Liao, Tao Zhang, Gall, Martin, Dianat, Arezoo, Rosenkranz, Rüdiger, Jordan, Rainer, Cuniberti, Gianaurelio, Zschech, Ehrenfried
Publikováno v: Applied Physics Letters; 7/6/2015, Vol. 107 Issue 1, p1-5, 5p, 1 Color Photograph, 2 Charts, 2 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje