Zobrazeno 1 - 10
of 32
pro vyhledávání: '"Roelofs, Robin"'
Autor:
Kalem, Seref, Tekin, Serdar B., Kaya, Zahit E., Jalaguier, Eric, Roelofs, Robin, Yildirim, Saffet, Yavuzcetin, Ozgur, Wenger, Christian
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing May 2023 158
Autor:
Grossi, Alessandro, Perez, Eduardo, Zambelli, Cristian, Olivo, Piero, Miranda, Enrique, Roelofs, Robin, Woodruff, Jacob, Raisanen, Petri, Wei, Li, Givens, Michael, Costina, Ioan, Schubert, Markus Andreas, Wenger, Christian
Publikováno v:
Scientific Reports, Vol 8, Iss 1, Pp 1-11 (2018)
The Resistive RAM (RRAM) technology is currently in a level of maturity that calls for its integration into CMOS compatible memory arrays. This CMOS integration requires a perfect understanding of the cells performance and reliability in relation to
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::3ed4c96a5f4788db3ab06db04d4d8062
http://link.springer.com/article/10.1038/s41598-018-29548-7
http://link.springer.com/article/10.1038/s41598-018-29548-7
Autor:
Pérez, Eduardo, Wenger, Christian, Grossi, Alessandro, Zambelli, Cristian, Olivo, Piero, Roelofs, Robin
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena
In this work, the impact of temperature in the range from −40 to +150 °C on the leakage mechanism and resistive switching voltages of 1T-1R HfO2-based devices is investigated. By using incremental step pulses with an additional read and verify alg
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::92ad3c70d519843ea01bca23d85aedce
Autor:
Rogers, David J., Look, David C., Teherani, Ferechteh H., Kalem, Seref, Tekin, Serdar B., Kaya, Zahit E., Jalaguier, Eric, Roelofs, Robin, Yildirim, Saffet, Yavuzcetin, Ozgur, Wenger, Christian
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; April 2021, Vol. 11687 Issue: 1 p116871L-116871L-18, 11570248p
Autor:
Grossi, Alessandro, Perez, Eduardo, Zambelli, Cristian, Olivo, Piero, Miranda, Enrique, Roelofs, Robin, Woodruff, Jacob, Raisanen, Petri, Li, Wei, Givens, Michael, Costina, Ioan, Schubert, Markus Andreas, Wenger, Christian
Publikováno v:
Scientific Reports; 7/24/2018, Vol. 8 Issue 1, p1-9, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pérez, Eduardo, Wenger, Christian, Grossi, Alessandro, Zambelli, Cristian, Olivo, Piero, Roelofs, Robin
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Nanotechnology & Microelectronics; Jan/Feb2017, Vol. 35 Issue 1, p1-5, 5p
Autor:
Wu, Tian-Li, Marcon, Denis, De Jaeger, Brice, Van Hove, Marleen, Bakeroot, Benoit, Lin, Dennis, Stoffels, Steve, Kang, Xuanwu, Roelofs, Robin, Groeseneken, Guido, Decoutere, Stefaan
Publikováno v:
2015 IEEE 27th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD); 2015, p225-228, 4p