Zobrazeno 1 - 10
of 61
pro vyhledávání: '"Rodionova, T. V."'
Autor:
Rodionova, T. V.1 (AUTHOR) tvr@niic.nsc.ru, Odintsov, D. S.2 (AUTHOR), Manakov, A. Yu.1,3 (AUTHOR), Komarov, V. Yu.1,3 (AUTHOR)
Publikováno v:
Journal of Structural Chemistry. Oct2019, Vol. 60 Issue 10, p1660-1669. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Ukrainian Journal of Physics; Vol. 60 No. 2 (2015); 165
Український фізичний журнал; Том 60 № 2 (2015); 165
Український фізичний журнал; Том 60 № 2 (2015); 165
The thickness dependence of the surface roughness and the grain size of nanosilicon films, produced by low-pressure chemical vapour deposition, has been found, by using atomic force microscopy. A correlation between the surface roughness, grain size,
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Aladko, L. S.1 aladko@che.nsk.ru, Rodionova, T. V.1
Publikováno v:
Russian Journal of General Chemistry. Aug2008, Vol. 78 Issue 8, p1476-1480. 5p. 1 Chart, 3 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Nano- & Electronic Physics; 2015, Vol. 7 Issue 1, p01033-1-01033-5, 5p