Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Robert M. Geffken"'
Publikováno v:
IBM Journal of Research and Development. 39:371-381
Advances in interconnection technology have played a key role in allowing continued improvements in integrated circuit density, performance, and cost. ibm contributions to interconnection technology over approximately the last ten generations of semi
Autor:
Robert M. Geffken
Publikováno v:
MRS Proceedings. 391
Projections on density, performance and cost attributes of a new technology generation are relatively easy to accomplish. However, defining the reliability attributes is more problematic, particularly if the technology contains many new process eleme
Publikováno v:
IBM Journal of Research and Development. 31:608-616
Les criteres du choix d'un materiau de contact ohmique pour les circuits logiques VLSI sont discutes. Les problemes de penetration de l'aluminium rencontres dans la metallisation par l'aluminium et l'epitaxie en phase solide associee a la metallisati
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.