Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Robbelein, Jo"'
Autor:
Boulenc, Pierre, Robbelein, Jo, Wu, Linkun, Motsnyi, Vasyl, Haspeslagh, Luc, Guerrieri, Stefano, Borremans, Jonathan, Rosmeulen, Maarten
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3848::c4423f4077401383f6878c50f88301d6
https://biblio.vub.ac.be/vubir/high-speed-backside-illuminated-tdi-ccdincmos-sensor(922de957-a0e0-4073-9218-e1a12d26a4d9).html
https://biblio.vub.ac.be/vubir/high-speed-backside-illuminated-tdi-ccdincmos-sensor(922de957-a0e0-4073-9218-e1a12d26a4d9).html
Autor:
Dross, Frédéric, Milhe, Aurélien, Robbelein, Jo, Gordon, Ivan, Bouchard, Pierre-Olivier, Beaucarne, Guy, Poortmans, Jef
Publikováno v:
Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference
33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC 2008
33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC 2008, May 2008, San Diego, United States. pp.Article number: 4922741-ISBN 9781424416417, ⟨10.1109/PVSC.2008.4922741⟩
33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC 2008
33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC 2008, May 2008, San Diego, United States. pp.Article number: 4922741-ISBN 9781424416417, ⟨10.1109/PVSC.2008.4922741⟩
International audience; We present a new wafering method for the production of ultra-thin crystalline silicon. This new lift-off process, named SLIM-cut (for Stress-induced LIft-off Method), requires only the use of a screen-printer and a belt furnac
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::d965cff0aeb314fd3bea1c62d486ff2c
https://hal-mines-paristech.archives-ouvertes.fr/hal-00846861
https://hal-mines-paristech.archives-ouvertes.fr/hal-00846861
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chun Gong, Van Kerschaver, Emmanuel, Robbelein, Jo, Janssens, Tom, Posthuma, Niels, Poortmans, Jef, Mertens, Robert
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Jun2010, Vol. 31 Issue 6, p576-578, 3p
Autor:
De Moor, Piet, Robbelein, Jo, Haspeslagh, Luc, Boulenc, Pierre, Ercan, Alper, Minoglou, Kyriaki, Lauwers, Anne, De Munck, Koen, Rosmeulen, Maarten
Publikováno v:
2014 IEEE International Electron Devices Meeting; 2014, p00-4.6.4, 0p