Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Roarty, B."'
1
Akademický článek
In-Operando X-ray diffraction imaging of thermal strains in fully packaged silicon devices
Autor: Tanner, B.K., Vijayaraghavan, R.K., Roarty, B., Danilewsky, A.N., McNally, P.J.
Publikováno v: In Microelectronics Reliability August 2019 99:232-238
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje