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Autor:
Ritter, Matthias Martin
Die präsentierte Arbeit beschäftigt sich mit der Zuverlässigkeit komplexer integrierter elektronischer Systeme unter thermomechanischer Belastung. Die dort auftretenden hohen Leistungsdichten können bei ungeeigneter Auslegung leicht zu Fehlern od
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::296d408cd211c213e947da26bc21267d
