Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Rincon, Jose Luis Susa"'
Autor:
Agarwal, Arpit, Ajith, Abhiroop, Wen, Chengtao, Stryzheus, Veniamin, Miller, Brian, Chen, Matthew, Johnson, Micah K., Rincon, Jose Luis Susa, Rosca, Justinian, Yuan, Wenzhen
In manufacturing processes, surface inspection is a key requirement for quality assessment and damage localization. Due to this, automated surface anomaly detection has become a promising area of research in various industrial inspection systems. A p
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2309.04590
Publikováno v:
IEEE Robotics & Automation Magazine, vol 26, iss 3
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::b83b51da5d64250b4c54f578ccb78e57
https://escholarship.org/uc/item/86b3z7fc
https://escholarship.org/uc/item/86b3z7fc
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.