Zobrazeno 1 - 10
of 69
pro vyhledávání: '"Riekkinen, T."'
Autor:
Riekkinen, T. (Tanja)
Selvitin tutkielmassani Oulun yliopiston akateemisten, lyhyemmin OYA:n historiaa. Yhdistys perustettiin alun perin nimellä Oulun yliopiston assistenttiyhdistys. Myöhemmin yhdistys on toiminut opetus- ja tutkimushenkilöstön edunvalvojana. Tarkemmi
Externí odkaz:
http://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-201612013151
Autor:
Riekkinen, T. (Toni)
Työn tarkoituksena on tutustua virtualisointiin keskisuuressa IT-alan yrityksessä. Työssä tehtävän kartoituksen perusteella on tarkoitus tuoda esiin, niin hyviä puolia, kuin myös mahdollisia uhkia ja riskejä, joita virtualisointiin liittyy.
Externí odkaz:
http://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-201510072024
Autor:
Wu, X., Peltola, T., Arsenovich, T., Gädda, A., Härkönen, J., Junkes, A., Karadzhinova, A., Kostamo, P., Lipsanen, H., Luukka, P., Mattila, M., Nenonen, S., Riekkinen, T., Tuominen, E., Winkler, A.
GaAs devices have relatively high atomic numbers (Z=31, 33) and thus extend the X-ray absorption edge beyond that of Si (Z=14) devices. In this study, radiation detectors were processed on GaAs substrates with 110 $\mu\textrm{m}$ - 130 $\mu\textrm{m}
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1503.04009
Autor:
Riekkinen, T., Nurmela, A., Molarius, J., Pensala, T., Kostamo, P., Ylilammi, M., van Dijken, S.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2009 517(24):6588-6592
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Riekkinen, T ∗, Molarius, J
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2003 70(2):392-397
Autor:
Lehto, J. (Joonas), Malmberg, M. (Markus), Biancari, F. (Fausto), Hartikainen, J. (Juha), Ihlberg, L. (Leo), Yannopoulos, F. (Fredrik), Riekkinen, T. (Teemu), Nissfolk, A. (Anna), Salmi, S. (Samuli), Nissinen, M. (Maunu), Airaksinen, J. (Juhani), Nieminen, T. (Tuomo), Kiviniemi, T. (Tuomas)
Background: The long-term incidence of stroke and the proportion of cardioembolic events after bioprosthetic surgical aortic valve replacement (SAVR) remain largely unknown. Methods: The CAREAVR study sought to assess the rate of stroke and transient
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2423::767916be264d0bae7f987e4a6b3e278d
http://urn.fi/urn:nbn:fi-fe201901242968
http://urn.fi/urn:nbn:fi-fe201901242968
Autor:
Kiviniemi, T. (Tuomas), Malmberg, M. (Markus), Biancari, F. (Fausto), Hartikainen, J. (Juha), Ihlberg, L. (Leo), Yannopoulos, F. (Fredrik), Riekkinen, T. (Teemu), von Hellens, O. (Otto), Lehto, J. (Joonas), Nissinen, M. (Maunu), Airaksinen, K. J. (Ke Juhani), Nieminen, T. (Tuomo)
Aims: Post-operative atrial fibrillation (POAF) is a frequent complication after open-heart surgery, and cardioversions (CV) are commonly performed to restore sinus rhythm. However, little data exists on thrombo-embolic risk related to early post-ope
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2423::21aed69a2fcb8cda9cd09da7b5678004
http://urn.fi/urn:nbn:fi-fe2019102134014
http://urn.fi/urn:nbn:fi-fe2019102134014
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 64(1):289-297
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 64(1):279-287