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pro vyhledávání: '"Richter, H.H."'
Autor:
Fox, A., Heinemann, B., Barth, R., Bolze, D., Drews, J., Haak, U., Knoll, D., Kuck, B., Kurps, R., Marschmeyer, S., Richter, H.H., Rucker, H., Schley, P., Schmidt, D., Tillack, B., Weidner, G., Wipf, C., Wolansky, D., Yamamoto, Y.
Publikováno v:
2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p
Autor:
Riicker, H., Heinemann, B., Barth, R., Bauer, J., Blum, D.B.K., Bolze, D., Drews, J., Fischer, G.G., Fox, A., Fursenko, O., Grabolla, T., Haak, U., Hoppner, W., Knoll, D., Kopke, K., Kuck, B., Mai, A., Marschmeyer, S., Morgenstern, T., Richter, H.H.
Publikováno v:
2007 IEEE International Electron Devices Meeting; 2007, p651-654, 4p
Autor:
Knoll, D., Heinemann, B., Ehwald, K.E., Fox, A., Rucker, H., Barth, R., Bolze, D., Grabolla, T., Haak, U., Drews, J., Kuck, B., Marschmeyer, S., Richter, H.H., Chaimanee, M., Fursenko, O., Schley, P., Tillack, B., Kopke, K., Yamamoto, Y., Wulf, H.E.
Publikováno v:
2006 International Electron Devices Meeting; 2006, p1-4, 4p
Autor:
Heinemann, B., Barth, R., Bolze, D., Drews, J., Formanek, P., Grabolla, T., Haak, U., Hoppner, W., Kopke, D.K., Kuck, B., Kurps, R., Marschmeyer, S., Richter, H.H., Rucker, H., Schley, P., Schmidt, D., Winkler, W., Wolansky, D., Wulf, H.E., Yamamoto, Y.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p251-254, 4p
Autor:
Rucker, H., Heinemann, B., Barth, R., Bolze, D., Drews, J., Fursenko, O., Grabolla, T., Haak, U., Hoppner, W., Knoll, D., Marschmeyer, S., Mohapatra, N., Richter, H.H., Schley, P., Schmidt, D., Tillack, B., Weidner, G., Wolansky, D., Wulf, H.E., Yamamoto, Y.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p239-242, 4p
Autor:
Knoll, D., Ehwald, K.E., Heinemann, B., Fox, A., Blum, K., Rucker, H., Furnhammer, F., Senapati, B., Barth, R., Haak, U., Hoppner, W., Drews, J., Kurps, R., Marschmeyer, S., Richter, H.H., Grabolla, T., Kuck, B., Fursenko, O., Schley, P., Scholz, R.
Publikováno v:
Digest. International Electron Devices Meeting; 2002, p783-786, 4p
Autor:
Heinemann, B., Rucker, H., Barth, R., Bauer, J., Bolze, D., Bugiel, E., Drews, J., Ehwald, K.-E., Grabolla, T., Haak, U., Hoppner, W., Knoll, D., Kruger, D., Kuck, B., Kurps, R., Marschmeyer, M., Richter, H.H., Schley, P., Schmidt, D., Scholz, R.
Publikováno v:
Digest. International Electron Devices Meeting; 2002, p775-778, 4p
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1998 Technical Digest (Cat No98CH36217); 1998, p535-539, 5p
Autor:
Knoll, D., Lischke, S., Zimmermann, L., Heinemann, B., Micusik, D., Ostrovskyy, P., Winzer, G., Kroh, M., Barth, R., Grabolla, T., Schulz, K., Fraschke, M., Lisker, M., Drews, J., Trusch, A., Kruger, A., Marschmeyer, S., Richter, H.H., Fursenko, O., Yamamoto, Y.
Publikováno v:
OFC 2014; 2014, p1-3, 3p
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; January 1989, Vol. 6 Issue: 1 p579-584, 6p