Zobrazeno 1 - 5 of 5 pro vyhledávání: '"Richner, John"'
1
Akademický článek
Spectral analysis of the IEC waveform, a comparison of generators and pulsers
Autor: Muhonen, Kathleen, Richner, John, Maloney, Timothy J.
Publikováno v: In Microelectronics Reliability January 2022 128
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Real HBM and MM waveform parameters
Autor: Barth, Jon, Richner, John, Henry, Leo G. *, Kelly, Mark
Publikováno v: In Journal of Electrostatics 2004 62(2):195-209
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Correlation considerations: Real HBM to TLP and HBM testers
Autor: Barth, Jon, Richner, John
Publikováno v: In Microelectronics Reliability 2002 42(6):909-917
Zobrazit plný text záznamu
4
Conference
On-chip system level ESD protection for Class G audio power amplifiers.
Autor: Srivastava, Ankit, Worley, Gene, Miao, Guoqing, Barth, Jon, Richner, John
Publikováno v: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium; 2013, p1-8, 8p
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
Correlation considerations II: Real HBM to HBM testers.
Autor: Barth, Jon, Richner, John, Verhaege, Koen, Kelly, Mark, Henry, Leo G.
Publikováno v: 2002 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium; 2002, p155-162, 8p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje