Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Richard Purser"'
Autor:
Brett Cohen, Richard Purser
Publikováno v:
The Journal of Solid Waste Technology and Management. 40:289-299
Autor:
Tahir Ghani, Richard Purser, Jingyoo Choi, Mark Y. Liu, Chris Parker, Ashwin Ashok, Jun He, Sangwoo Pae, Karen Lemay, Paul A. Packan, Bruce Woolery, Ryan Lu, Anthony St. Amour, Seok-Hee Lee
Publikováno v:
2010 IEEE International Reliability Physics Symposium.
High-K (HK) and Metal-Gate (MG) transistor reliability is very challenging both from the standpoint of introduction of new materials and requirement of higher field of operation for higher performance. In this paper, key and unique HK+MG intrinsic tr
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.