Zobrazeno 1 - 10
of 53
pro vyhledávání: '"Richard P. Good"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 23:201-209
Principal component analysis (PCA) is a technique commonly used for fault detection and classification (FDC) in highly automated manufacturing. Because PCA model building and adaptation rely on eigenvalue decomposition of parameter covariance matrice
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 23:168-177
The exponentially weighted moving average (EWMA) filter is commonly used for state estimation of run-to-run controllers in semiconductor manufacturing. It is widely known that, when at steady state, the EWMA filter provides the minimum mean square er
Periodical
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
مهدي عيس ى, وليد محمد
Publikováno v:
Al-Academy; 2020, Issue 97, p377-390, 14p
Autor:
Farris, Dale
Publikováno v:
Library Journal. 3/15/2012, Vol. 137 Issue 5, p84-84. 1/5p.
Autor:
Fox, Bette-Lee (AUTHOR), Heilbrun, Margaret (AUTHOR), Hoffert, Barbara (AUTHOR), Katterjohn, Anna (AUTHOR), McArdle, Molly (AUTHOR), McCormack, Heather (AUTHOR), Thornton-Verma, Henrietta (AUTHOR), Williams, Wilda (AUTHOR), Hill, Nanci Milone (AUTHOR), Baird, Jane Henriksen (AUTHOR), Jacobsen, Teresa L. (AUTHOR), Ramsdell, Kristin (AUTHOR), Cassada, Jackie (AUTHOR), Welch, Rollie (AUTHOR), Ayers, Jeff (AUTHOR), Vnuk, Rebecca (AUTHOR), Cornog, Martha (AUTHOR), Raiteri, Steve (AUTHOR), Cords, Sarah Statz (AUTHOR), Bibel, Barbara (AUTHOR)
Publikováno v:
Library Journal. 12/1/2011, Vol. 136 Issue 20, p54-65. 12p.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wright, Emily
Publikováno v:
Building (00073318); 10/22/2010, Vol. 275 Issue 42, p36-39, 4p, 6 Black and White Photographs
Autor:
Pachauri, Nikhil, Rani, Asha
Publikováno v:
2014 International Conference on Advances in Engineering & Technology Research (ICAETR - 2014); 2014, p1-5, 5p
Publikováno v:
2014 International Joint Conference on Neural Networks (IJCNN); 2014, p1314-1319, 6p