Zobrazeno 1 - 10
of 276
pro vyhledávání: '"Richard, M. I."'
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 1 May 2021 244-246
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Beutier, G., Verdier, M., De Boissieu, M., Gilles, B., Livet, F., Richard, M. -I., Cornelius, T. W., Labat, S., Thomas, O.
Publikováno v:
Journal of Physics: Conference Series 425 (2013) 2003
Coherent x-ray micro-diffraction and local mechanical loading can be combined to investigate the mechanical deformation in crystalline nanostructures. Here we present measurements of plastic deformation in a copper crystal of sub-micron size obtained
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1305.7013
Autor:
Meng, A.C., Braun, M.R., Wang, Y., Fenrich, C.S., Xue, M., Diercks, D.R., Gorman, B.P., Richard, M.-I., Marshall, A.F., Cai, W., Harris, J.S., McIntyre, P.C.
Publikováno v:
In Materials Today Nano March 2019 5
Modified strain and elastic energy behavior of Ge islands formed on high-miscut Si(0 0 1) substrates
Autor:
Marçal, L.A.B., Richard, M.-I., Persichetti, L., Favre-Nicolin, V., Renevier, H., Fanfoni, M., Sgarlata, A., Schülli, T.Ü., Malachias, A.
Publikováno v:
In Applied Surface Science 1 February 2019 466:801-807
Autor:
Ben Yahia, B., Amara, M.S., Gallard, M., Burle, N., Escoubas, S., Guichet, C., Putero, M., Mocuta, C., Richard, M.-I., Chahine, R., Sabbione, C., Bernard, M., Fellouh, L., Noé, P., Thomas, O.
Publikováno v:
In Micro and Nano Engineering November 2018 1:63-67
Autor:
Vianne, B., Escoubas, S., Krauss, C., Richard, M.-I., Labat, S., Chahine, G., Micha, J.-S., Schülli, T., Fiori, V., Farcy, A., Thomas, O.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 20 April 2016 156:59-64
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Vianne, B., Escoubas, S., Richard, M.-I., Labat, S., Chahine, G., Schülli, T., Farcy, A., Bar, P., Fiori, V., Thomas, O.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2 April 2015 137:117-123
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.