Zobrazeno 1 - 10
of 35
pro vyhledávání: '"Ribaudo, Troy"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Dyer, Gregory C., Nordquist, Christopher D., Cich, Michael J., Ribaudo, Troy, Grine, Albert D., Fuller, Charles T., Reno, John L., Wanke, Michael C.
Publikováno v:
Appl. Phys. Lett. 103, 161109 (2013)
A Schottky diode integrated into a terahertz quantum cascade laser waveguide couples directly to the internal laser fields. In a multimode laser, the diode response is correlated with both the instantaneous power and the coupling strength to the diod
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1605.03118
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Robinson, John C., Sendelbach, Matthew J., Keller, Nick, Chen, Zhuo, Wang, Peter, Grynko, Rostislav, Ribaudo, Troy, Antonelli, G. Andrew, Wang, Youcheng, Frederick, Joshua, Takabayashi, Sadao, Hauck, John, Engelhard, Dan
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; April 2023, Vol. 12496 Issue: 1 p124961Z-124961Z-13, 12371153p
Autor:
Nick Keller, Zhuan Liu, Luey Chwan Liong, G. Andrew Antonelli, Franklin J. Wong, John Hauck, Wenmei Ming, Ross Grynko, Joshua Frederick, Ribaudo Troy Daniel, Ahmad Fumani, Biow Hiem Ong, Hepeng Ding, Bo Hui Ng, Dan Engelhard, Zhuo Chen, Sadao Takabayashi
Publikováno v:
Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV.
A novel mid-infrared critical dimension (IRCD) metrology has been developed on a platform suitable for fab production. Compared to traditional optical critical dimension (OCD) technology based on ultraviolet, visible, and near-IR light, the IRCD syst
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::470ff02229c3508f5df9ed2880e3cc9c
https://doi.org/10.1117/12.2583786
https://doi.org/10.1117/12.2583786
Autor:
Robinson, John C., Sendelbach, Matthew J., Keller, Nick, Ming, Wenmei, Chen, Zhuo, Antonelli, G. Andrew, Ribaudo, Troy, Liu, Zhuan, Takabayashi, Sadao, Hauck, John, Frederick, Joshua, Engelhard, Dan
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; May 2022, Vol. 12053 Issue: 1 p120530T-120530T-9, 1084780p
Autor:
Martin, James E., Ribaudo, Troy
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Apr2013, Vol. 113 Issue 14, p144907, 8p, 6 Diagrams
Non-destructive measurement of bottom width in deep trench isolation structures using IRCD metrology
Autor:
Sendelbach, Matthew J., Schuch, Nivea G., Keller, Nick, Poulingue, Marc, Grynko, Ross, Ribaudo, Troy, Antonelli, G. Andrew, Li, Victor, Ravasio, Marcello, Le Cunff, Delphine
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; April 2024, Vol. 12955 Issue: 1 p1295514-1295514-13
Autor:
Adan, Ofer, Robinson, John C., Antonelli, G. Andrew, Keller, Nick, Ribaudo, Troy, Wong, Franklin J., Ming, Wenmei, Ding, Hepeng, Chen, Zhuo, Grynko, Ross, Fumani, Ahmad, Liu, Zhuan, Takabayashi, Sadao, Hauck, John, Frederick, Joshua, Engelhard, Dan, Ng, Bo Hui, Ong, Biow Hiem, Liong, Luey Chwan
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; February 2021, Vol. 11611 Issue: 1 p116111O-116111O-10, 11495000p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.