Zobrazeno 1 - 10
of 138
pro vyhledávání: '"Reuter, M.C."'
Publikováno v:
In Journal of Power Sources 1 October 2014 263:239-245
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 2009 12(1):25-30
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Nature. 8/2/2001, Vol. 412 Issue 6846, p517. 4p. 2 Black and White Photographs, 2 Graphs.
Autor:
Wen, C-Y, Tersoff, J., Hillerich, K., Reuter, M.C., Park, J. H., Kodambaka, S., Stach, Eric, Ross, F.M.
Publikováno v:
Birck and NCN Publications
Nanowire growth in the standard < 111 > direction is assumed to occur at a planar catalyst-nanowire interface, but recent reports contradict this picture. Here we show that a nonplanar growth interface is, in fact, a general phenomenon. Both III-V an
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______540::3b25e8dcee8764037cad52bae74553eb
http://docs.lib.purdue.edu/nanopub/757
http://docs.lib.purdue.edu/nanopub/757
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Islanding and misfit relaxation are obstacles for growth of heteroepitaxial films. Surfactants not only inhibit islanding, but also control defect structure. Growth of Ge on Si(111) was mediated by a monolayer of Sb floating on the surface. Upon exce
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=unidue___bib::aec98ff2e006cc807b31e8b88e201885
http://prl.aps.org/abstract/PRL/v67/i9/p1130_1
http://prl.aps.org/abstract/PRL/v67/i9/p1130_1
We describe a new two‐dimensional detector for the detection of ions scattered from a solid target, analyzed in energy and scattering angle by a toroidal electrostatic analyzer. The detector resolves the scattering angle with a resolution of 0.4°
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=unidue___bib::110a3b89f2a16184aa844e04a2d5bcc9
http://rsi.aip.org/resource/1/rsinak/v62/i11/p2679_s1
http://rsi.aip.org/resource/1/rsinak/v62/i11/p2679_s1