Zobrazeno 1 - 10
of 109
pro vyhledávání: '"Ren L.L."'
Publikováno v:
International Journal of Metrology and Quality Engineering, Vol 4, Iss 2, Pp 81-86 (2013)
The grazing incidence X-ray reflectivity is used to determine the multilayer thickness of GaAs/AlAs supperlattice. The measurement process includes the fitting model and the measurement conditions (different powers of 45 kV × 40 mA, 40 kV × 40 mA
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ff77f2503555468b9aae973ecb7a5594
Publikováno v:
In Composite Structures 1 September 2024 343
Publikováno v:
In Mechanical Systems and Signal Processing 15 July 2023 195
Autor:
Zhou, Jian *, Song, X.M., Zheng, G.Y., Sun, J., Li, B., Xia, F., Li, J.X., Zhang, J.H., Luo, C.W., Pan, W., Ren, L.L., Ma, R.
Publikováno v:
In Fusion Engineering and Design June 2020 155
Publikováno v:
In Fusion Engineering and Design April 2020 153
Autor:
Zhou, Jian, Song, X.M., Zheng, G.Y., Xia, F., Pan, W., Li, J.X., Zhang, J.H., Luo, C.W., Li, B., Ji, X.Q., Ren, L.L., Ma, R.
Publikováno v:
In Fusion Engineering and Design May 2019 142:20-25
Publikováno v:
In Micron December 2015 79:46-52
Publikováno v:
In Powder Technology September 2015 281:1-6
Publikováno v:
In Mutation Research - Fundamental and Molecular Mechanisms of Mutagenesis 2004 556(1):193-200
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.