Zobrazeno 1 - 10
of 29
pro vyhledávání: '"Rempfer, G. F."'
Autor:
Griffith, O. H., Lesch, G. H., Rempfer, G. F., Birrell, G. B., Burke, C. A., Schlosser, D. W., Mallon, M. H., Lee, G. B., Stafford, R. G., Jost, P. C., Marriott, T. B.
Publikováno v:
Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, 1972 Mar 01. 69(3), 561-565.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/61330
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Mar1982, Vol. 53 Issue 3, p2774-2776, 3p
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Mar1982, Vol. 53 Issue 3, p2771-2773, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Griffith, O H, Rempfer, G F
Publikováno v:
Annual Review of Biophysics; Jun1985, Vol. 14 Issue 1, p113-130, 18p
Autor:
Gilbert, B., Margaritondo, G., Douglas, S., Nealson, K. H., Egerton, R. F., Rempfer, G. F., Stasio, G. De
Publikováno v:
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena; 2001, Vol. 114 Issue: 1 p1005-1011, 7p
Autor:
Gilbert, B., Margaritondo, G., Douglas, S., Nealson, K. H., Egerton, R. F., Rempfer, G. F., De Stasio, G.
Specimen charging under X-ray illumination is a well known phenomenon that can seriously obstruct the analysis of insulating samples. Synchrotron X-PEEM spectromicroscopy can reach a lateral resolution of 20 nm, 1-2 orders of magnitude larger than el
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______185::56ad32c1fefbbeb44190226ad275a947
https://infoscience.epfl.ch/record/90396
https://infoscience.epfl.ch/record/90396
Autor:
Destasio, G., Desloge, D., Skoczylas, W. P., Mercanti, D., Ciotti, M. T., Margaritondo, G., Rempfer, G. F.
The feasibility of using the LEEM technique in neurobiology was tested with experiments on a rat cerebellar granule cell culture. A series of good-quality images, showing fine details such as axons and dendrites of the neuron network, demonstrate tha
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______185::6e9609da60046f0e7f507927ce1ecc26
https://infoscience.epfl.ch/record/90213
https://infoscience.epfl.ch/record/90213
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; March 1982, Vol. 53 Issue: 3 p2771-2773, 3p
Publikováno v:
Microscopy & Microanalysis; 1999 Supplement, p356-357, 2p