Zobrazeno 1 - 10 of 50 pro vyhledávání: '"Rek, Z. U."'
1
Akademický článek
Observation of the Adhesion of Thin Ta Polycrystalline Films to Si Wafers Via in situ Topography / Radiography
Autor: Zhao, Z. B., Rek, Z. U., Bilello, J. C.
Publikováno v: Philosophical Transactions: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 1999 Oct . 357(1761), 2681-2688.
Externí odkaz: https://www.jstor.org/stable/55261
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Evolution of in-plane texture in reactively sputtered CrN films.
Autor: Zhao, Z. B., Rek, Z. U., Yalisove, S. M., Bilello, J. C.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 1/15/2005, Vol. 97 Issue 2, p023525, 9p, 1 Black and White Photograph, 3 Diagrams, 7 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Evolution of anisotropic microstructure and residual stress in sputtered Cr films.
Autor: Zhao, Z. B., Yalisove, S. M., Rek, Z. U., Bilello, J. C.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 12/15/2002, Vol. 92 Issue 12, p7183, 10p, 3 Black and White Photographs, 6 Diagrams, 7 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Characterization of Si-TaSi2 in situ composites by synchrotron white beam topography and by double axis diffractometry.
Autor: Stock, S. R., Chung, Y. H., Huang, P. C., Rek, Z. U., Ditchek, B. M.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2/15/1993, Vol. 73 Issue 4, p1737, 6p, 6 Black and White Photographs, 1 Diagram, 2 Charts, 1 Graph
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Effects of high carbon concentration upon oxygen precipitation and related phenomena in CzSi.
Autor: Hahn, S., Arst, M., Ritz, K. N., Shatas, S., Stein, H. J., Rek, Z. U., Tiller, W. A.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 7/15/1988, Vol. 64 Issue 2, p849, 7p, 4 Black and White Photographs, 1 Chart, 3 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Characterization of TaSi2–Si composites for use as wide-bandpass optical elements for synchrotron radiation.
Autor: Stock, S. R., Rek, Z. U., Goorsky, M. S.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 5/1/1996, Vol. 79 Issue 9, p6803, 8p, 4 Black and White Photographs, 2 Diagrams, 2 Charts, 5 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Depth dependence of residual strains in polycrystalline Mo thin films using high-resolution x-ray diffraction.
Autor: Malhotra, S. G., Rek, Z. U., Yalisove, S. M., Bilello, J. C.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 5/1/1996, Vol. 79 Issue 9, p6872, 8p, 4 Diagrams, 3 Charts, 5 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Growth textures of thick sputtered films and multilayers assessed via synchrotron transmission Laue.
Autor: Vill, M. A., Rek, Z. U., Yalisove, S. M., Bilello, J. C.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 9/15/1995, Vol. 78 Issue 6, p3812, 8p
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
High Resolution X-Ray Characterization of Tl-2212 Superconducting Thin Films.
Autor: Daniels, M. J., Bilello, J. C., Rek, Z. U., Hyland, D., Dew-Hughes, D., Grovenor, C. R. M.
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 12/18/2001, Vol. 678 Issue 1, p1-6, 6p
Zobrazit plný text záznamu
10
Conference
Study of TaSi2-Si Crystals with High Energy Synchrotron Radiation as Tunable Wide-bandpass Monochromator and Analyzer Optics.
Autor: Rütt, U., Stock, S. R., Rek, Z. U.
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 12/18/2001, Vol. 678 Issue 1, p1-4, 4p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje