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Autor:
Reis, Ricardo Augusto da Luz
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSUniversidade Federal do Rio Grande do SulUFRGS.
La prédiction de l'organisation topologique du plan de masse d'un circuit VLSI complexe est très importante pour sa conception. Cette thèse présente une étude sur les proprietés statistiques des dessins des masques des principaux blocs constitu
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http://hdl.handle.net/10183/18232
Autor:
Conceicao, Calebe Micael de Oliveira1 (AUTHOR) calebeconceicao@charqueadas.ifsul.edu.br, Reis, Ricardo Augusto da Luz2 (AUTHOR) reis@inf.ufrgs.br
Publikováno v:
IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers. Jun2019, Vol. 66 Issue 6, p2175-2187. 13p.
Autor:
Hentschke, Renato Fernandes, Narasimhan, Jaganathan, Johann, Marcelo de Oliveira, Reis, Ricardo Augusto da Luz
Publikováno v:
Repositório Institucional da UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
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In this paper, we address the problem of generating good topologies of rectilinear Steiner trees using path search algorithms. Various techniques have been applied in order to achieve acceptable run times on a Maze Router that builds Steiner trees. A
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::781f58ddf725f7dc70909a9aa5702fc0
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In deep-submicrometer technologies, process variability challenges the design of high yield integrated circuits. While device critical dimensions and threshold voltage shrink, leakage currents drastically increase, threatening the feasibility of reli
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::17aaffc81e5b8a7ff875c6b94d085bbb
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Em tecnologias nanométricas, variações nos parâmetros CMOS são um desafio para o projeto de circuitos com yielda apropriado. Neste trabalho nós propomos uma metodologia eficiente e precisa para a modelagem estatística de circuitos. Propagaçã
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::dfa2a3142369db89fc3e9a09536d4aba
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::c904d2c57b8b5c5792349df707d39da0
Autor:
Cota, Erika Fernandes, Lima, Fernanda Gusmao de, Rezgui, Sana, Carro, Luigi, Velazco, Raoul, Lubaszewski, Marcelo Soares, Reis, Ricardo Augusto da Luz
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This paper presents the implementation of a fault detection and correction technique used to design a robust 8051 micro-controller with respect to a particular transient fault called Single Event Upset (SEU). A specific study regarding the effects of
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::6d82664f15b3f68f8f9af268be0d4c4e
Publikováno v:
2014 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI; 2014, p350-355, 6p
Autor:
Ferreira, Jorge Alberto
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Desde a década de 1970, novas tecnologias de semicondutores impactam nossa sociedade. Desde então, o número de componentes num mesmo circuito é dobrado a cada dois anos, seguindo a Lei de Moore. Com esse avanço, os microprocessadores atuais poss
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::315e568bd7da16dcdceeb06540a04c73
Autor:
Abich, Geancarlo
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Os algoritmos de aprendizado de máquina (ML) têm fornecido soluções diretas para uma ampla gama de aplicações. A alta demanda computacional de tais algoritmos limita sua adoção em dispositivos com restrição de recursos, os quais normalmente
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::354ea51bcf887ece2467af3232e6d9a9