Zobrazeno 1 - 10
of 38
pro vyhledávání: '"Reigosa, Paula Diaz"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:563-567
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:577-583
Publikováno v:
Fogsgaard, M B, Reigosa, P D, Iannuzzo, F & Hartmann, M 2020, Mechanistic Power Module Degradation Modelling Concept with Feedback . in EPE’20 ECCE Europe : The 22nd European Conference on Power Electronics and Applications . pp. P.1-P.7, EPE'20 ECCE Europe: 22nd European Conference on Power Electronics and Applications, Lyon, France, 07/09/2020 . https://doi.org/10.23919/EPE20ECCEEurope43536.2020.9215897
A platform will be presented based on physics-of-failure-based models. The platform gives an overviewof the couplings between simulation, health monitoring and online lifetime prediction of a power module.The platform is modular and is not tied to an
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::78b627072db74b816883fe238007c57c
https://vbn.aau.dk/da/publications/8120111c-1375-4ea3-83f3-f9525939be5c
https://vbn.aau.dk/da/publications/8120111c-1375-4ea3-83f3-f9525939be5c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Akbari, Mohsen, Bahman, Amir Sajjad, Reigosa, Paula Diaz, Iannuzzo, Francesco, Tavakoli Bina, Mohammad
Publikováno v:
Akbari, M, Bahman, A S, Reigosa, P D, Iannuzzo, F & Tavakoli Bina, M 2018, ' Thermal modeling of wire-bonded power modules considering non-uniform temperature and electric current interactions ', Microelectronics Reliability, vol. 88-90, pp. 1135-1140 . https://doi.org/10.1016/j.microrel.2018.07.150
To assess power devices’ reliability, it is crucial to have a relatively accurate thermal approach which provides valid temperature estimates. In this paper, a commercial Si IGBT and SiC MOSFET power modules are investigated. Also, the electric cur
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::b13d180fec191062df49f2f73971bbd4
https://vbn.aau.dk/da/publications/81f0ae92-f0e2-4608-88a7-6a7c17ae8375
https://vbn.aau.dk/da/publications/81f0ae92-f0e2-4608-88a7-6a7c17ae8375
Autor:
Brito, Erick M.S., Cupertino, Allan Fagner, Reigosa, Paula Diaz, Yang, Yongheng, Mendes, Victor Flores, Pereira, Heverton A.
Publikováno v:
Brito, E M S, Cupertino, A F, Reigosa, P D, Yang, Y, Mendes, V F & Pereira, H A 2018, ' Impact of meteorological variations on the lifetime of grid-connected PV inverters ', Microelectronics Reliability, vol. 88-90, pp. 1019-1024 . https://doi.org/10.1016/j.microrel.2018.07.066
In this paper a grid-connected single-phase PV inverter is employed as a study case in order to investigate the effects of different meteorological conditions on the reliability analysis. The lifetime evaluation of the power modules consisting of the
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::238960df2a25c7cdb89b3f1a84cfe342
https://vbn.aau.dk/da/publications/2936b704-3eb5-4f38-bc75-0b45a85dbbe0
https://vbn.aau.dk/da/publications/2936b704-3eb5-4f38-bc75-0b45a85dbbe0
Publikováno v:
Du, H, Reigosa, P D, Iannuzzo, F & Ceccarelli, L 2018, ' Investigation on the degradation indicators of short-circuit tests in 1.2 kV SiC MOSFET power modules ', Microelectronics Reliability, vol. 88-90, pp. 661-665 . https://doi.org/10.1016/j.microrel.2018.06.039
This paper provides a comprehensive investigation on both static characteristics and short-circuit performance of 1.2 kV SiC MOSFET power modules with 2nd generation planar technology. The experimental approach is based on the static characteristics
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::94aeb162a9db2553665207c3411bd9f1
https://vbn.aau.dk/ws/files/288485203/HDU_Investigation_on_the_degradation_indicators_Ver7.0.pdf
https://vbn.aau.dk/ws/files/288485203/HDU_Investigation_on_the_degradation_indicators_Ver7.0.pdf
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.