Zobrazeno 1 - 10
of 30
pro vyhledávání: '"Reif, Johanna"'
Autor:
Reif, Johanna, Knaut, Martin, Killge, Sebastian, Albert, Matthias, Mikolajick, Thomas, Bartha, Johann W.
Controlled thin film etching is essential for future semiconductor devices, especially with complex high aspect ratio structures. Therefore, self-limiting atomic layer etching processes are of great interest to the semiconductor industry. In this wor
Externí odkaz:
https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A91138
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A91138/attachment/ATT-0/
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A91138/attachment/ATT-0/
Autor:
Tröger, David, Grube, Matthias, Knaut, Martin, Reif, Johanna, Bartha, Johann W., Mikolajick, Thomas
In order to remove the local openings for contacting PERC Solar cells, one has to introduce passivating contacts. The Al₂O₃-TiOₓ double layer stack is an attractive candidate for this purpose. This study will guide a way to enhance the conducti
Externí odkaz:
https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A76913
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A76913/attachment/ATT-0/
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A76913/attachment/ATT-0/
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 15 April 2019 211:13-17
Autor:
Killge, Sebastian, Bartusseck, Irene, Junige, Marcel, Neumann, Volker, Reif, Johanna, Wenzel, Christian, Böttcher, Mathias, Albert, Matthias, Jürgen Wolf, M., Bartha, Johann W.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 15 January 2019 205:20-25
Autor:
Lykova, Maria, Panchenko, Iuliana, Künzelmann, Ulrich, Reif, Johanna, Geidel, Marion, Wolf, M. Jürgen, Lang, Klaus-Dieter
Publikováno v:
Soldering & Surface Mount Technology, 2018, Vol. 30, Issue 2, pp. 106-111.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/SSMT-10-2017-0033
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.