Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Redemund, W."'
Autor:
Hapke, F., Arnold, R., Beck, M., Baby, M., Straehle, S., Goncalves, J. F., Panait, A., Behr, R., Maugard, G., Prashanthi, A., Schloeffel, J., Redemund, W., Glowatz, A., Fast, A., Rajski, J.
Publikováno v:
2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS); 2014, p1-6, 6p
Cell-aware analysis for small-delay effects and production test results from different fault models.
Autor:
Hapke, F., Schloeffel, J., Redemund, W., Glowatz, A., Rajski, J., Reese, M., Rearick, J., Rivers, J.
Publikováno v:
2011 IEEE International Test Conference (ITC); 2011, p1-8, 8p
Autor:
Hapke, F., Redemund, W., Schloeffel, J., Krenz-Baath, R., Glowatz, A., Wittke, M., Hashempour, H., Eichenberger, S.
Publikováno v:
2010 IEEE International Test Conference (ITC); 2010, p1-10, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.