Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Reddy, Gaurav"'
Autor:
Zhou, Guanglei, Korrapati, Bhargav, Reddy, Gaurav Rajavendra, Hu, Jiang, Chen, Yiran, Thakurta, Dipto G.
Generation of diverse VLSI layout patterns is crucial for various downstream tasks in design for manufacturing (DFM) studies. However, the lengthy design cycles often hinder the creation of a comprehensive layout pattern library, and new detrimental
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2409.01348
Continuous technology scaling and the introduction of advanced technology nodes in Integrated Circuit (IC) fabrication is constantly exposing new manufacturability issues. One such issue, stemming from complex interaction between design and process,
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2007.05879
Autor:
Liu, Kang, Tan, Benjamin, Reddy, Gaurav Rajavendra, Garg, Siddharth, Makris, Yiorgos, Karri, Ramesh
Deep learning (DL) offers potential improvements throughout the CAD tool-flow, one promising application being lithographic hotspot detection. However, DL techniques have been shown to be especially vulnerable to inference and training time adversari
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2004.12492
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
AIChE Journal; Jan2025, Vol. 71 Issue 1, p1-28, 28p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bidmeshki, Mohammad-Mahdi, Reddy, Gaurav Rajavendra, Zhou, Liwei, Rajendran, Jeyavijayan, Makris, Yiorgos
Publikováno v:
2016 IEEE 34th International Conference on Computer Design (ICCD); 2016, p153-156, 4p