Zobrazeno 1 - 10
of 206
pro vyhledávání: '"Rebaudengo, Maurizio"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Computers in Industry August 2018 99:183-192
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability May 2016 60:153-162
Publikováno v:
In Mathematical and Computer Modelling September 2013 58(5-6):1236-1248
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hemmatpour, Masoud, Rebaudengo, Maurizio, Montrucchio, Bartolomeo, Karimshoushtari, Milad, Rodi, Luca, Brucculeri, Calogero, Manconi, Claudio, Shahshahani, Amirhossein, Bhadra, Sharmistha
Nimble is a holistic approach for fall prevention, prediction and detection system.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0c0e68d08012e454c3575e6de1f20277
Publikováno v:
In Journal of Network and Computer Applications 2011 34(3):821-832
Autor:
Mamone, Dario, Bosio, Alberto, Savino, Alessandro, Hamdioui, S., Rebaudengo, Maurizio, Dilillo, Luigi, Psarakis, Mihalis, Siddiqua, Taniya
Publikováno v:
2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), Oct 2020, Frascati, Italy. pp.1-6, ⟨10.1109/DFT50435.2020.9250861⟩
DFT
33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2020: Proceedings
33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2020
2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), Oct 2020, Frascati, Italy. pp.1-6, ⟨10.1109/DFT50435.2020.9250861⟩
DFT
33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2020: Proceedings
33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2020
Nowadays, the reliability has become one of the main issues for safety-critical embedded systems, like automotive, aerospace and avionic. In an embedded system, the full system stack usually includes, between the hardware layer and the software/appli
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c641fc8b20b169f5a4f82f2123e59ea2
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03111216
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03111216
Autor:
Hemmatpour, Masoud, Ferrero, Renato, Gandino, Filippo, Montrucchio, Bartolomeo, Rebaudengo, Maurizio
Publikováno v:
Journal of Healthcare Engineering, Vol 2018 (2018)
Journal of Healthcare Engineering
Journal of Healthcare Engineering
Falls are critical events for human health due to the associated risk of physical and psychological injuries. Several fall-related systems have been developed in order to reduce injuries. Among them, fall-risk prediction systems are one of the most p
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2ad5380ab651a360d9fb8283e714943c
https://doi.org/10.1155/2018/4750104
https://doi.org/10.1155/2018/4750104
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.