Zobrazeno 1 - 10
of 413
pro vyhledávání: '"Rebaudengo, M."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Journal 1 January 2003 34(1):53-61
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Radiation Effects on Embedded Systems
RAOUL VELAZCO, PASCAL FOUILLAT and RICARDO REIS. Radiation Effects on Embedded Systems, Springer, pp.69-88, 2007, ISBN :978-1-4020-5645-1, ⟨10.1007/978-1-4020-5646-8⟩
RAOUL VELAZCO, PASCAL FOUILLAT and RICARDO REIS. Radiation Effects on Embedded Systems, Springer, pp.69-88, 2007, ISBN :978-1-4020-5645-1, ⟨10.1007/978-1-4020-5646-8⟩
The problem of analyzing the effects of transient faults in a digital system is very complex, and it may be addressed successfully only if it is performed at different steps of the design process. In this work we report and overview of fault injectio
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::f333ddee4a3b540546f301169a57c081
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185911
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185911
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::965a26de62d4755e10a46903581a42e6
https://doi.org/10.1109/edtc.1997.582417
https://doi.org/10.1109/edtc.1997.582417
Publikováno v:
Proceedings-15th-Symposium-on-Integrated-Circuits-and-Systems-Design
An automatic software technique suitable for on-line detection of transient errors due to the effects of the environment (radiation, EMC,...) is presented. The proposed approach, particularly well suited for low-cost safety-critical microprocessor-ba
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::9d4fe8d1538485ffcf54726ff53faf1b
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00008203
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00008203
Publikováno v:
6th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS'01)
6th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS'01), Sep 2001, Grenoble, France
6th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS'01), Sep 2001, Grenoble, France
International audience; In this paper two lost-cost solutions for providing error detection capabilities to processor-based systems are compared. The effects of SEUs and SETs is studied through simulation-based fault injection which is used to compar
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::88e180097bc382c464a3371ef32ed40f
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01388756
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01388756
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.