Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Rearick, Jeff"'
Autor:
Von Staudt, Hans-Martin, Portolan, Michele, Cote, J.F, Waayers, Tom, Rearick, Jeff, Keim, Martin
Publikováno v:
UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
IEEE 1687-2014 gained traction in the test community very fast. Numerous innovations, publications, and implementations have been described, from both, industry and academia. Today, 7 years plus a few months after the release of the standard, much of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::cb1cfd225c204a00d03a22ffb7c95e0c
https://hdl.handle.net/2117/372284
https://hdl.handle.net/2117/372284
IEEE 1687-2014 gained traction in the test community very fast. Numerous innovations, publications, and implementations have been described, from both, industry and academia. Today, 7 years plus a few months after the release of the standard, much of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______166::b97e0347fd4f9d2f502cb49ee6c73bc0
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03780250
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03780250
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gu, Xinli, Rearick, Jeff, Eklow, Bill, Qian, Jun, Jutman, Artur, Chakrabarty, Krishnendu, Larsson, Erik
As chips are getting increasingly complex, there is no surprise to find more and more built-in DFX. This built-in DFT is obviously beneficial for chip/silicon DFX engineers; however, board/system level DFX engineers often have limited access to the b
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0643bd7bf420bf06da6870c5617d7015
https://lup.lub.lu.se/record/2732595
https://lup.lub.lu.se/record/2732595
Publikováno v:
2015 IEEE International Test Conference (ITC); 2015, p1-8, 8p
Publikováno v:
2014 International Test Conference; 2014, p1-8, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.