Zobrazeno 1 - 10 of 24 pro vyhledávání: '"Raveh, Amir"'
1
Akademický článek
Current density profile characterization and analysis method for focused ion beam
Autor: Greenzweig, Yuval, Drezner, Yariv, Tan, Shida, Livengood, Richard H., Raveh, Amir
Publikováno v: In Microelectronic Engineering 2 April 2016 155:19-24
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Akademický článek
High resolution TEM analysis of focused ion beam amorphized regions in single crystal silicon-A complementary materials analysis of the teardrop method.
Autor: Dreznera, Yariv, Greenzweig, Yuval, Tan, Shida, Livengood, Richard H., Raveh, Amir
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Nanotechnology & Microelectronics; Jan/Feb2017, Vol. 35 Issue 1, p1-10, 10p
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Energetic Cs+ ion interaction with common microelectronic materials--An investigation of a future FIB candidate source.
Autor: Drezner, Yariv, Greenzweig, Yuval, Raveh, Amir
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Nanotechnology & Microelectronics; Nov/Dec2016, Vol. 34 Issue 6, p061203-1-061203-7, 7p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje