Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Rauch, Stewart E."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Rauch, Stewart E., Guarin, Fernando
Publikováno v:
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices; 2015, p29-56, 28p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tewksbury, Stuart K., Brewer, Joe E., Strong, Alvin W., Wu, Ernest Y., Vollertsen, Rolf-Peter, Suñé, Jordi, La Rosa, Giuseppe, Rauch, Stewart E., Sullivan, Timothy D.
Publikováno v:
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; 2009, p71-208, 138p
Autor:
Tewksbury, Stuart K., Brewer, Joe E., Strong, Alvin W., Wu, Ernest Y., Vollertsen, Rolf-Peter, Suñé, Jordi, La Rosa, Giuseppe, Rauch, Stewart E., Sullivan, Timothy D.
Publikováno v:
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; 2009, p517-564, 48p
Autor:
Tewksbury, Stuart K., Brewer, Joe E., Strong, Alvin W., Wu, Ernest Y., Vollertsen, Rolf-Peter, Suñé, Jordi, La Rosa, Giuseppe, Rauch, Stewart E., Sullivan, Timothy D.
Publikováno v:
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; 2009, p441-516, 76p
Autor:
Tewksbury, Stuart K., Brewer, Joe E., Strong, Alvin W., Wu, Ernest Y., Vollertsen, Rolf-Peter, Suñé, Jordi, La Rosa, Giuseppe, Rauch, Stewart E., Sullivan, Timothy D.
Publikováno v:
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; 2009, p619-624, 6p
Autor:
Tewksbury, Stuart K., Brewer, Joe E., Strong, Alvin W., Wu, Ernest Y., Vollertsen, Rolf-Peter, Suñé, Jordi, La Rosa, Giuseppe, Rauch, Stewart E., Sullivan, Timothy D.
Publikováno v:
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; 2009, p565-618, 54p
Autor:
Tewksbury, Stuart K., Brewer, Joe E., Strong, Alvin W., Wu, Ernest Y., Vollertsen, Rolf-Peter, Suñé, Jordi, La Rosa, Giuseppe, Rauch, Stewart E., Sullivan, Timothy D.
Publikováno v:
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies; 2009, p209-329, 121p