Zobrazeno 1 - 10
of 151
pro vyhledávání: '"Ratliff, L. P."'
Autor:
Gillaspy, J. D., Blagojevic, B., Dalgarno, A., Fahey, K., Kharchenko, V., Laming, J. M., Bigot, E. -O. Le, Lugosi, L., Makonyi, K., Ratliff, L. P., Schnopper, H. W., Silver, E. H., Takacs, E., Tan, J. N., Tawara, H., Tokési, K.
Publikováno v:
14th APS Topical Conference on Atomic Processes in Plasmas, \'{E}tats-Unis d'Am\'{e}rique (2004) 245
After a brief introduction to the NIST EBIT facility, we present the results of three different types of experiments that have been carried out there recently: EUV and visible spectroscopy in support of the microelectronics industry, laboratory astro
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/physics/0603131
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Chemical Physics; 8/1/1994, Vol. 101 Issue 3, p2638, 4p
Autor:
Gillaspy, J. D., Blagojevic, B., Dalgarno, A., Fahey, K., Kharchenko, V., Laming, J. M., Le Bigot, E.-O., Lugosi, L., Makonyi, K., Ratliff, L. P., Schnopper, H. W., Silver, E. H., Takács, E., Tan, J. N., Tawara, H., Tokési, K.
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; 2004, Vol. 730 Issue 1, p245-254, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ratliff, L. P., Gillaspy, J. D.
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; 2001, Vol. 576 Issue 1, p935, 4p
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; Apr1995, Vol. 329 Issue 1, p289-294, 6p
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; Oct1993, Vol. 290 Issue 1, p29-34, 6p
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1998, Vol. 16 Issue 6, p3294-3297, 4p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.