Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Rashed, Atef M."'
Autor:
Phillips, Laurie J. a, ⁎, Rashed, Atef M. a, Treharne, Robert E. a, Kay, James a, Yates, Peter a, Mitrovic, Ivona Z. b, Weerakkody, Ayendra b, Hall, Steve b, Durose, Ken a
Publikováno v:
In Solar Energy Materials and Solar Cells April 2016 147:327-333
Autor:
Phillips, Laurie J. a, ⁎, Rashed, Atef M. a, Treharne, Robert E. a, Kay, James a, Yates, Peter a, Mitrovic, Ivona Z. b, Weerakkody, Ayendra b, Hall, Steve b, Durose, Ken a
Publikováno v:
In Data in Brief December 2015 5:926-928
Autor:
Rashed, Atef M., Selviah, David R.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2004, Issue 1, p359-366, 8p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2001, Issue 1, p602-609, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optical Engineering; Mar2003, Vol. 42 Issue 3, p792-797, 6p
Autor:
Phillips, Laurie J., Rashed, Atef M., Treharne, Robert E., Kay, James, Yates, Peter, Mitrovic, Ivona Z., Weerakkody, Ayendra, Hall, Steve, Durose, Ken
Publikováno v:
Data in Brief, Vol 5, Iss C, Pp 926-928 (2015)
Data in brief
Data in brief
Ellipsometry was used to measure the amplitude ratio and phase difference of light undergoing a phase shift as it interacts with a thin film of organic–inorganic hybrid perovskite CH3NH3PbI3 (MAPI) deposited onto a (100) silicon wafer. The refracti
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::cd5bb465d9b366d3de7159ae2eaef0ca
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Conference on Optoelectronic & Microelectronic Materials & Devices, 2004; 2004, p413-414, 2p