Zobrazeno 1 - 10
of 29
pro vyhledávání: '"Raoult, Jeremy"'
Near-field imaging experiments exist both in optics and microwaves with often different methods and theoretical supports. For millimeter waves or THz waves, techniques from both fields can be merged to identify materials at the micron scale on the su
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2101.11616
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2015 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo); 2015, p29-33, 5p
Publikováno v:
2015 IEEE International Instrumentation & Measurement Technology Conference (I2MTC) Proceedings; 2015, p1189-1193, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chusseau, Laurent, Omarouayache, Rachid, Raoult, Jeremy, Jarrix, Sylvie, Maurine, Philippe, Tobich, Karim, Bover, Alexandre, Vrignon, Bertrand, Shepherd, John, Le, Thanh-Ha, Berthier, Mael, Riviere, Lionel, Robisson, Bruno, Ribotta, Anne-Lise
Publikováno v:
2014 22nd International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC); 2014, p1-6, 6p