Zobrazeno 1 - 10
of 74
pro vyhledávání: '"Rantamäki, R."'
Autor:
Kanatharana, J., Pérez-Camacho, J.J., Buckley, T., McNally, P.J. ∗, Tuomi, T., Danilewsky, A.N., O’Hare, M., Lowney, D., Chen, W., Rantamäki, R., Knuuttila, L., Riikonen, J.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2003 65(1):209-221
Autor:
McNally, Patrick J. a, *, Danilewsky, A.N. b, Curley, J.W. a, Reader, A c, Rantamäki, R. d, Tuomi, T. d, Bolt, M. c, Taskinen, M. d
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 1999 45(1):47-56
Publikováno v:
Journal of X-Ray Science & Technology. 1998, Vol. 8 Issue 4, p277. 12p.
Grazing incidence synchrotron X-ray topography as a tool for denuded zone studies of silicon wafers.
Publikováno v:
Journal of X-Ray Science & Technology. 1998, Vol. 8 Issue 3, p159. 11p.
Publikováno v:
Rantamäki, R., Tuomi, Tiinamaija, Zytkiewicz, Z.R., Domagala, J. and McNally, Patrick J. ORCID: 0000-0003-2798-5121 (1999) Synchrotron x-ray topographic and high-resolution diffraction analysis of mask-induced strain in epitaxial laterally overgrown GaAs layers. Journal of Applied Physics, 86 (8). ISSN 0021-8979
Synchrotron x-ray back reflection section topographs of epitaxial lateral overgrown (ELO) GaAs samples grown on (001) GaAs substrates show images of the GaAs layers bent due to the interaction between the layer and the SiO2 mask. The topographs are s
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______119::acd77492b1503b9e8952e03e6d189f5d
http://doras.dcu.ie/201/
http://doras.dcu.ie/201/
Autor:
Bavdaz, M, Peacock, A, Nenonen, S, Jantunen, M A, Gagliardi, T, Tuomi, T, Hjelt, K T, Juvonen, M, Rantamäki, R, Kraft, S, Wedowski, M, Scholze, F, Ulm, G, McNally, P J, Curley, J, Danilewsky, A N
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od________65::165b15957debf1224a780ff18ef75fb6
http://cds.cern.ch/record/335041
http://cds.cern.ch/record/335041
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; Dec1999, Vol. 570 Issue 1, p181-186, 6p