Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Ranka, Anush"'
Autor:
Layek, Madhuja, Yang, In Seok, Dai, Zhenghong, Ranka, Anush, Cai, Truong, Sheldon, Brian W., Chason, Eric, Padture, Nitin P.
Using an innovative combination of multi-beam-optical stress-sensor (MOSS) curvature and X-ray diffraction (XRD) techniques, the Young's modulus (E) of polycrystalline MAPbI3 metal-halide perovskite (MHP) thin films attached to Si substrates is estim
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2307.07071
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yang, In Seok, Dai, Zhenghong, Ranka, Anush, Chen, Du, Zhu, Kai, Berry, Joseph J., Guo, Peijun, Padture, Nitin P.
Publikováno v:
Advanced Materials; 1/18/2024, Vol. 36 Issue 3, p1-9, 9p
