Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Raninen, Anu"'
peer-reviewed In this paper we present how functional defect analysis can be applied for software process improvement (SPI) purposes. Software defect data is shown to be one of the most important available management information sources for SPI decis
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1249::a8eb844e3b8158acfe54fbb9a42c5853
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Systems, Software & Services Process Improvement (9783642391781); 2013, p72-83, 12p
Publikováno v:
2013 IEEE International Conference on Software Maintenance; 2013, p11-19, 9p
Publikováno v:
Product-Focused Software Process Improvement (9783642310621); 2012, p3-16, 14p