Zobrazeno 1 - 10
of 21
pro vyhledávání: '"Randriamihaja, Y.M."'
Autor:
Garetto, D., Randriamihaja, Y.M., Zaka, A., Rideau, D., Schmid, A., Jaouem, H., Leblebici, Y.
Publikováno v:
2011 12th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS); 2011, p1-4, 4p
Publikováno v:
2010 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (IRW); 2010, p61-66, 6p
Autor:
Garetto, D., Randriamihaja, Y.M., Rideau, D., Dornel, E., William, F.C., Schmid, A., Huard, V., Jaouen, H., Leblebici, Y.
Publikováno v:
2010 14th International Workshop on Computational Electronics (IWCE); 2010, p1-4, 4p
Off state incorporation into the 3 energy mode device lifetime modeling for advanced 40nm CMOS node.
Autor:
Bravaix, A., Gue?rin, C., Goguenheim, D., Huard, V., Roy, D., Besset, C., Renard, S., Randriamihaja, Y.M., Vincent, E.
Publikováno v:
2010 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2010, p55-64, 10p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2011, pXT.5.1-XT.5.3, 1p