Zobrazeno 1 - 10
of 42
pro vyhledávání: '"Ramm, Roland"'
Autor:
Ramm, Roland1 (AUTHOR) roland.ramm@iof.fraunhofer.de, de Dios Cruz, Pedro1 (AUTHOR), Heist, Stefan1 (AUTHOR), Kühmstedt, Peter1 (AUTHOR), Notni, Gunther1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Sensors (14248220). Apr2024, Vol. 24 Issue 7, p2290. 20p.
Autor:
Ramm, Roland, Heinze, Matthias, Kühmstedt, Peter, Christoph, Andreas, Heist, Stefan, Notni, Gunther
Publikováno v:
In Journal of Cultural Heritage January-February 2022 53:165-175
Autor:
Ullsperger, Tobias, Liu, Dongmei, Yürekli, Burak, Matthäus, Gabor, Schade, Lisa, Seyfarth, Brian, Kohl, Hagen, Ramm, Roland, Rettenmayr, Markus, Nolte, Stefan
Publikováno v:
In Additive Manufacturing October 2021 46
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bräuer-Burchardt, Christian1 (AUTHOR) christian.braeuer-burchardt@iof.fraunhofer.de, Ramm, Roland1 (AUTHOR), Kühmstedt, Peter1 (AUTHOR), Notni, Gunther1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Sensors (14248220). Oct2022, Vol. 22 Issue 19, p7540-7540. 15p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Risse, Stefan, Damm, Christoph, Hornaff, Marcel, Kamm, Andreas, Mohaupt, Matthias, Eberhardt, Ramona, Schmidt, Ingo, Ramm, Roland, Kühmstedt, Peter, Notni, Gunther, Döring, Hans-Joachim, Elster, Thomas, Kirschstein, Ulf Carsten, Schenk, Christoph
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2012 97:100-104