Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Rakshit, Abhishek"'
Autor:
Huang, Chubin, Rakshit, Abhishek, Janka, Gianluca, Salman, Zaher, Suter, Andreas, Prokscha, Thomas, Frandsen, Benjamin A., Kalcheim, Yoav
The coupling between structural, electronic and magnetic degrees of freedom across the metal-insulator transition in V2O3 makes it hard to determine the main driving mechanism behind the transition. Specifically, the role of magnetism has been debate
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2410.23030
Pyroelectric and photovoltaic effects are vital in cutting-edge thermal imaging, infrared sensors, thermal and solar energy harvesting. Recent advances revealed the great potential of the bulk photovoltaic effect in two-dimensional (2D) semiconductor
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2312.17360
Autor:
Rakshit, Abhishek
Master of Science
Department of Computing and Information Sciences
Xinming (Simon) Ou
Security scanning performed on computer systems is an important step to identify and assess potential vulnerabilities in an enterprise network, befor
Department of Computing and Information Sciences
Xinming (Simon) Ou
Security scanning performed on computer systems is an important step to identify and assess potential vulnerabilities in an enterprise network, befor
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/2097/1296
Autor:
Rakshit, Abhishek.
Thesis (M.S.)--Kansas State University, 2009.
Title from electronic thesis title page. Includes bibliographical references.
Title from electronic thesis title page. Includes bibliographical references.
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/2097/1296
Autor:
Sultana, Rezwana, Islam, Karimul, Rakshit, Abhishek, Mukherjee, Manabendra, Chakraborty, Supratic
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 15 August 2019 216
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Barazani, Eti, Das, Dip, Huang, Chubin, Rakshit, Abhishek, Saguy, Cecile, Salev, Pavel, del Valle, Javier, Toroker, Maytal, Schuller, Ivan, Kalcheim, Yoav
Description of files: RTs: resistance vs. temperature data for the samples discuss in the main text (figure 2). Rocking curves: Rocking curves of the out-of-plane peaks for samples A1, A2 and M. XRD – plane scans: two-theta vs omega scans of multip
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::618e1a0aa686a01840b9671e8370207d
Autor:
Barazani, Eti, Das, Dip, Huang, Chubin, Rakshit, Abhishek, Saguy, Cecile, Salev, Pavel, del Valle, Javier, Toroker, Maytal Caspary, Schuller, Ivan K., Kalcheim, Yoav
Publikováno v:
Advanced Functional Materials; Aug2023, Vol. 33 Issue 31, p1-8, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.