Zobrazeno 1 - 10
of 50
pro vyhledávání: '"Raghuram, U."'
Publikováno v:
Journal of Evolution of Medical and Dental Sciences. 5:5768-5770
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wang, Chunxia1 (AUTHOR) 18716218339@163.com, Li, Xuemei1 (AUTHOR), Sun, Zhendong1 (AUTHOR), Liu, Yang1 (AUTHOR), Yang, Ying1 (AUTHOR), Chen, Lijia1 (AUTHOR) 20132078@cqnu.edu.cn
Publikováno v:
Inorganics. Mar2024, Vol. 12 Issue 3, p87. 21p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Huang, Weiye1 (AUTHOR) hzdzkjdx.hwy@hdu.edu.cn, Wu, Junyi2 (AUTHOR) willian199109@163.com, Li, Wenxin1 (AUTHOR) wwenxindiaolong@163.com, Chen, Guojin1 (AUTHOR) chenguojin@163.com, Chu, Changyong1 (AUTHOR) kevin@hdu.edu.cn, Li, Chao1 (AUTHOR) zhuyucheng202205@163.com, Zhu, Yucheng1 (AUTHOR) 222010073@hdu.edu.cn, Yang, Hui1 (AUTHOR), Chao, Yan1 (AUTHOR) y_nest@hdu.edu.cn
Publikováno v:
Materials (1996-1944). Aug2023, Vol. 16 Issue 15, p5483. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Blosse, A., Raghuram, U., Thekdi, S., Koutny, B., Lau, G., Koh, S.L., Goodenough, C., Pouedras, T., Sethuraman, A., Geha, S., Chowdhury, T., Guggilla, S., Krishna, N., Su, J., Cha, C., Yao, G., Price, J.B.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 1999 International Interconnect Technology Conference (Cat No99EX247); 1999, p215-217, 3p
Autor:
Walker, A.J., Nallamothu, S., Chen, E.-H., Mahajani, M., Herner, S.B., Clark, M., Cleeves, J.M., Dunton, S.V., Eckert, V.L., Gu, J., Hu, S., Knall, J., Konevecki, M., Petti, C., Radigan, S., Raghuram, U., Vienna, J., Vyvoda, M.A.
Publikováno v:
2003 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.03CH37407); 2003, p29-30, 2p
Autor:
Sekar, D. C., Bateman, B., Raghuram, U., Bowyer, S., Bai, Y., Calarrudo, M., Swab, P., Wu, J., Nguyen, S., Mishra, N., Meyer, R., Kellam, M., Haukness, B., Chevallier, C., Wu, H., Qian, H., Kreupl, F., Bronner, G.
Publikováno v:
2014 IEEE International Electron Devices Meeting; 2014, p00.4-28.3.4, 0p