Zobrazeno 1 - 10
of 72
pro vyhledávání: '"Radzimski, Z. J."'
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/15/1993, Vol. 73 Issue 12, p8412, 7p, 2 Black and White Photographs, 4 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/15/1992, Vol. 72 Issue 8, p3610, 7p, 2 Diagrams, 2 Charts, 7 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/1/1992, Vol. 72 Issue 7, p2873, 6p
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 5/1/1991, Vol. 69 Issue 9, p6495, 5p, 1 Chart, 7 Graphs
Autor:
Radzimski, Z. J., Jiang, B. L., Rozgonyi, G. A., Humphreys, T. P., Hamaguchi, N., Bedair, S. M.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 9/1/1988, Vol. 64 Issue 5, p2328, 6p, 1 Black and White Photograph, 8 Diagrams, 1 Chart
Autor:
Humphreys, T. P., Hamaguchi, N., Bedair, S. M., Tarn, J. C. L., El-Masry, N., Radzimski, Z. J.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/1/1988, Vol. 64 Issue 7, p3763, 3p, 7 Black and White Photographs
Publikováno v:
Scanning Microscopy
Defect induced inversion of conductivity type was studied both at the surface and at a network of interfacially confined misfit dislocations in heteroepitaxial Si(Ge) on Si structures. The inversion was achieved by controlled contamination with Au an
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1459::7fcc26d4e536b0d72e3ae41ceafacda4
https://digitalcommons.usu.edu/microscopy/vol7/iss2/7
https://digitalcommons.usu.edu/microscopy/vol7/iss2/7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.