Zobrazeno 1 - 10
of 67
pro vyhledávání: '"RELIABLE MODEL"'
Publikováno v:
Machine Learning: Science and Technology, Vol 4, Iss 4, p 045028 (2023)
The ability of deep learning (DL) approaches to learn generalised signal and noise models, coupled with their fast inference on GPUs, holds great promise for enhancing gravitational-wave (GW) searches in terms of speed, parameter space coverage, and
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/e5c42ebe72974a3b99c58d89f52196fe
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Dominique Richon, Amir H. Mohammadi, Deresh Ramjugernath, Poorandokht Ilani-Kashkouli, Farhad Gharagheizi
Publikováno v:
Fluid Phase Equilibria. 355:81-86
In this communication, a reliable group contribution (GC) method is presented for the estimation of the thermal decomposition temperature ( T d ) of ionic liquids. A dataset comprising experimental T d data for 613 ionic liquids (ILs) that covers a t
Autor:
Daniel Bauza
Publikováno v:
ECS Transactions
ECS Transactions, Electrochemical Society, Inc., 2016, 72 (2), pp.207-222. ⟨10.1149/07202.0207ecst⟩
229th ECS Meetings: 7th Int. Symposium on Dielectrics for Nanosystems: Materials Science, Processing, Reliability and Manufaturing-and-Solid State Topics General Session
229th ECS Meetings: 7th Int. Symposium on Dielectrics for Nanosystems: Materials Science, Processing, Reliability and Manufaturing-and-Solid State Topics General Session, D. Misra, K. Sundaram, H. Iwai, T. Chikyo, Y. Obeng, Z. Chen, D. Bauza, O. Leonte and K. Shimanura, May 2016, San Diego, United States
ECS Transactions, Electrochemical Society, Inc., 2016, 72 (2), pp.207-222. ⟨10.1149/07202.0207ecst⟩
229th ECS Meetings: 7th Int. Symposium on Dielectrics for Nanosystems: Materials Science, Processing, Reliability and Manufaturing-and-Solid State Topics General Session
229th ECS Meetings: 7th Int. Symposium on Dielectrics for Nanosystems: Materials Science, Processing, Reliability and Manufaturing-and-Solid State Topics General Session, D. Misra, K. Sundaram, H. Iwai, T. Chikyo, Y. Obeng, Z. Chen, D. Bauza, O. Leonte and K. Shimanura, May 2016, San Diego, United States
The Charge Pumping (CP) technique has been used to characterize insulator semiconductor interface traps in numerous device types and in a wealth of situations [1]. A few years ago and for the first time, the three basic CP curves types recorded from
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c0755798cefb24652a5404005bfb7feb
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02015172
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02015172
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.