Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"R.T. Eachambadi"'
Autor:
Mathias Rommel, R.T. Eachambadi, A. Bilbao-Guillerna, G.B.J. Cadot, S. Beuer, F. Stumpf, John Billingham, Dragos Axinte
Publikováno v:
Journal of Materials Processing Technology. 252:636-642
Focused Ion Beam (FIB) systems can be used to generate controlled micro- and nano-features on a solid surface. Prediction of surfaces fabricated in this way requires knowledge of the rate of removal of the target material in order to simulate the evo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::69712d812e743f1353ccf49edc2878a2
https://doi.org/10.1016/j.jmatprotec.2017.10.024
https://doi.org/10.1016/j.jmatprotec.2017.10.024
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.