Zobrazeno 1 - 10
of 55
pro vyhledávání: '"R.P. Dunne"'
Autor:
R.P. Dunne
Publikováno v:
Ecological Modelling. 218:188-191
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b94d4d50ae1b9c4fd126987db3dd834b
https://doi.org/10.1016/j.ecolmodel.2008.04.004
https://doi.org/10.1016/j.ecolmodel.2008.04.004
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Barry J. Rubin, Robert H. Dennard, Wiren D. Becker, T. Gallo, L.M. Terman, R.P. Dunne, Howard H. Smith, Phillip J. Restle, George A. Katopis, D.R. Knebel, Gerard V. Kopcsay, George Anthony Sai-Halasz, Paul W. Coteus, C.W. Surovic, Alina Deutsch, Byron L. Krauter, Keith A. Jenkins
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 45:1836-1846
Short, medium, and long on-chip interconnections having linewidths of 0.45-52 /spl mu/m are analyzed in a five-metal-layer structure. We study capacitive coupling for short lines, inductive coupling for medium-length lines, inductance and resistance
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c6626ea00cc442c6620ad368ef1f3541
https://doi.org/10.1109/22.641781
https://doi.org/10.1109/22.641781
Autor:
G.V. Kopcsay, C.W. Surovic, Barry J. Rubin, Alina Deutsch, T. Gallo, R.H. Dennard, L.M. Terman, R.P. Dunne
Publikováno v:
IBM Journal of Research and Development. 39:547-567
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::29d7b9c74f7587f8e1c1f2acbfb73b6e
https://doi.org/10.1147/rd.395.0547
https://doi.org/10.1147/rd.395.0547
Autor:
George A. Katopis, Alina Deutsch, G.V. Kopcsay, Howard H. Smith, C.W. Surovic, T. Gallo, Wiren D. Becker, R.H. Dennard, Keith A. Jenkins, Barry J. Rubin, Daniel R. Knebel, Phillip J. Restle, L.M. Terman, R.P. Dunne, Paul W. Coteus
Publikováno v:
Electrical Performance of Electronic Packaging.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cc875024b3612a6035f3ff6bb8bf3b34
https://doi.org/10.1109/epep.1996.564768
https://doi.org/10.1109/epep.1996.564768
Autor:
Barry J. Rubin, L.M. Terman, R.P. Dunne, D.R. Knebel, G.V. Kopcsay, George Anthony Sai-Halasz, Byron L. Krauter, P.J. Reslte, T. Gallo, Wiren D. Becker, Paul W. Coteus, Howard H. Smith, George A. Katopis, C.W. Surovic, Alina Deutsch
Publikováno v:
Electrical Performance of Electronic Packaging.
The importance of inductance and inductive coupling for accurate delay and crosstalk prediction in on-chip interconnections is investigated experimentally for the top three layers in a five-layer wiring structure and guidelines are formulated. In-pla
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fb56e5c4fc5e11c0a7a0682c421775b5
https://doi.org/10.1109/epep.1997.634037
https://doi.org/10.1109/epep.1997.634037
Autor:
Wiren D. Becker, George Anthony Sai-Halasz, Keith A. Jenkins, Barry J. Rubin, George A. Katopis, Alina Deutsch, D.R. Knebel, C.W. Surovic, T. Gallo, Phillip J. Restle, G.V. Kopcsay, Paul W. Coteus, Howard H. Smith, Robert H. Dennard, L.M. Terman, R.P. Dunne
Publikováno v:
1997 Proceedings 47th Electronic Components and Technology Conference.
Short, medium and long on-chip interconnections having line widths of 0.45-52 /spl mu/m are analyzed in a five-metal-layer structure. We study capacitive coupling for short lines, inductive coupling for medium-length lines, inductance and resistance
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::829279c2419dcf5bf3525a523ab6965a
https://doi.org/10.1109/ectc.1997.606248
https://doi.org/10.1109/ectc.1997.606248
Publikováno v:
Proceedings of Electrical Performance of Electronic Packaging.
The unique characteristics of long on-chip interconnections in terms of modelling, simulation and design practices are investigated for representative five-layer structures. Experimental results are shown for a specially designed test vehicle with li
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8339c1308c2a2e7b273a771e8a0740de
https://doi.org/10.1109/epep.1995.524683
https://doi.org/10.1109/epep.1995.524683
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.