Zobrazeno 1 - 10
of 29
pro vyhledávání: '"R.M. Ring"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
David H. Eppes, Jacob Wilcox, Mike Bruce, R.M. Ring, Paiboon Tangyunyong, Victoria J. Bruce, Edward I. Cole, C.F. Hawkins
Publikováno v:
The 16th Annual Meeting of the IEEE Lasers and Electro-Optics Society, 2003. LEOS 2003..
Soft defects in integrated circuits (ICs) are defined as failures when the IC is partially functional, but will not operate properly under all specified conditions - these conditions may be within or outside normal limits. To address soft defects, a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d2d2d979cb6180a2035117421e53e2d0
https://doi.org/10.1109/leos.2003.1252974
https://doi.org/10.1109/leos.2003.1252974
Autor:
Victoria J. Bruce, W.-L. Chong, D.A. Benson, Daniel L. Barton, C.F. Hawkins, David H. Eppes, C.L. Henderson, Jacob Wilcox, Mike Bruce, R.M. Ring, J.M. Soden, Paiboon Tangyunyong, Edward I. Cole
Publikováno v:
The 16th Annual Meeting of the IEEE Lasers and Electro-Optics Society, 2003. LEOS 2003..
Defect localization in modern ICs can be extremely challenging. To address this complexity several optically based methodologies have been developed over the past decade. These techniques will be described demonstrating their utility in locating defe
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::85c114fe32cc390787ba165674fa49da
https://doi.org/10.1109/leos.2003.1252911
https://doi.org/10.1109/leos.2003.1252911
Autor:
Victoria J. Bruce, R.M. Ring, Charles F. Hawkins, Michael R. Bruce, Paiboon Tangyunyong, Edward I. Cole, Wan-Loong Chong
Publikováno v:
ISTFA 2001: Conference Proceedings from the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis.
Resistive Interconnection Localization (RIL) is a new scanning laser microscope analysis technique that directly and rapidly localizes defective IC vias, contacts, and conductors from the front side and backside. RIL uses a scanned laser to produce l
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b088aa99bb7594bb7eee4cf097509d5c
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2001p0043
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2001p0043
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.