Zobrazeno 1 - 10
of 13
pro vyhledávání: '"R.L. Allmon"'
Publikováno v:
Proceedings of the 34th Design Automation Conference.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::dfea95bc887ab869dc4394fbc7b04659
https://doi.org/10.1109/dac.1997.597240
https://doi.org/10.1109/dac.1997.597240
Autor:
W.J. Bowhill, R.L. Allmon, S.L. Bell, E.M. Cooper, D.R. Donchin, J.H. Edmondson, T.C. Fischer, P.E. Gronowski, A.K. Jain, P.L. Kroesen, B.J. Loughlin, R.P. Preston, P.I. Rubinfeld, M.J. Smith, S.C. Thierauf, G.M. Wolrich
Publikováno v:
Proceedings ISSCC '95 - International Solid-State Circuits Conference.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::97ef60df6b3730181c316860db1ea51e
https://doi.org/10.1109/isscc.1995.535514
https://doi.org/10.1109/isscc.1995.535514
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of the 2001 IEEE/ACM International Conference: Computer-aided Design; 11/ 4/2001, p44-48, 5p
Autor:
Ofelt, David, Hennessy, John L.
Publikováno v:
Proceedings of the 2000 ACM SIGMETRICS International Conference: Measurement & Modeling of Computer Systems; 6/18/2000, p229-239, 11p
Publikováno v:
2005 PhD Research in Microelectronics & Electronics; 2005, p89-89, 1p