Zobrazeno 1 - 10
of 12
pro vyhledávání: '"R.J. Rosner"'
Autor:
C.H. Stapper, R.J. Rosner
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 8:95-102
Integrated circuit manufacturing yields are not necessarily a function of chip area. Accurate yield analysis shows how the yield depends on circuit design and layout. By determining the probabilities of failure and critical areas for different defect
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::88cc6aec616d3c3636eacc4618baf176
https://doi.org/10.1109/66.388016
https://doi.org/10.1109/66.388016
Publikováno v:
DFT
Yield models based on chip area are inadequate for modeling the yield of CMOS ASIC and processor chips. A model based on the number of circuits was found to give more accurate results. Defect learning curves measured with DRAMs have been used success
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6e8f2e55f70c626c39e4b2a474e0a33b
https://doi.org/10.1109/dftvs.1993.595739
https://doi.org/10.1109/dftvs.1993.595739
Publikováno v:
IEEE/SEMI 1998 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (Cat. No.98CH36168).
Successful semiconductor manufacturing is driven by wafer-level productivity. Increasing profits by reducing manufacturing cost is a matter of optimizing the factors contributing to wafer productivity. The major wafer productivity components are chip
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7983e6ddae9f635a471c437792cda304
https://doi.org/10.1109/asmc.1998.731382
https://doi.org/10.1109/asmc.1998.731382
Publikováno v:
2001 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (IEEE Cat. No.01CH37160).
Since the semiconductor industry has aggressively shortened product development cycles, characterizing and solving design-process sensitivities has seen a drastic reduction in the "window of opportunity". Thus, many semiconductor fabricators must bui
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7234989357adeef48d3354c532f873f2
https://doi.org/10.1109/asmc.2001.925639
https://doi.org/10.1109/asmc.2001.925639
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
R.J. Rosner, C.H. Stapper
Publikováno v:
Solid-State Electronics. 25:487-489
Data show that simplistic models of yield as a function of chip area are not realistic. Yield of ROS ( R ead O nly S tore) chips as a function of the number of bits results, however, in a smooth relationship. This observation appeared to hold for thr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9cf096a9701b22da6b6a285b6cce2085
https://doi.org/10.1016/0038-1101(82)90161-7
https://doi.org/10.1016/0038-1101(82)90161-7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.