Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"R.H. Mauter"'
Publikováno v:
29th Annual Proceedings Reliability Physics 1991.
High electron mobility transistor (HEMT) devices from three manufacturers were subjected to accelerated life tests. The purpose of the reliability studies of commercially available gallium arsenide signal transistors was to independently assess their
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::75c0a4e46bdb41da149cc990b0776df1
https://doi.org/10.1109/relphy.1991.146017
https://doi.org/10.1109/relphy.1991.146017
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.