Zobrazeno 1 - 10
of 37
pro vyhledávání: '"R.E. Viturro"'
Autor:
A.D. Raisanen, R.E. Viturro, S. Chang, Peter D. Kirchner, George David Pettit, Jerry M. Woodall, I. M. Vitomirov, Leonard J. Brillson
Publikováno v:
Applied Surface Science. :667-675
The dependence of Schottky barrier formation on surface and interface preparation offers several broad avenues for understanding electronic structure and charge transfer at metal/semiconductor junctions. Interface cathodo- and photoluminescence measu
Publikováno v:
Vacuum. 41:1016-1020
Direct observations of electronic states at metal-semiconductor junctions provide new information for understanding Schottky barrier formation. Low energy cathodoluminescence spectroscopy (CLS) offers a sensitive probe of near-surface and ‘buried
Publikováno v:
Solid State Communications. 56:867-870
By investigating the photoconductivity and photoabsorption and their intensity dependence on the same samples we show that it is possible to determine the fall-off parameter of an exponentially decaying bandtail in the vicinity of the quasi-Fermi lev
Publikováno v:
Surface Science. 161:553-566
The adsorption of NO on W(100) at 300 K has been investigated by XPS and EAS over a range of coverages and temperatures. At room temperature the adsorption is dissociative. From the results obtained it was concluded that in the low coverage range the
Publikováno v:
ResearcherID
By comparative investigation of the photoconductivity and photoabsorption on the same samples we show that it is possible to determine the fall-off parameter of an exponentially decaying bandtail and the dominant recombination mechanism. Experimental
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a243ab866d2034bb32fbf647a512a558
http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=INSPEC&KeyUT=INSPEC:2652305&KeyUID=INSPEC:2652305
http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=INSPEC&KeyUT=INSPEC:2652305&KeyUID=INSPEC:2652305
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.