Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"R.D. Redd"'
Publikováno v:
GaAs Reliability 2002 Workshop.
Summary form only given. GaAs-based HBT reliability is determined by many factors including device layout design, epi-material properties and device fabrication processes. The latest generation of device designs across the industry almost without exc
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.